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XQC系列測檢顯微鏡

 

XQC系列測檢顯微鏡
測檢顯微鏡是一種應用廣泛的光學儀器。它的主要優點是工作距離長，鑒別率、成像清晰，結構輕巧美觀。因此，它是電子、儀表、輕紡等行業檢查和測量細小疵病及表面狀況的重要工具，它也可用于其它工農業部門。
 

Model
XQC-Ⅰ
XQC-Ⅱ
XQC-Ⅲ
XQC-Ⅳ
總放大倍數
60X
80X
40X
100X
物方視場
Ø2.3
Ø1.5
Ø4.4
Ø1.4
測量范圍
Ø1.6
Ø1.2
Ø3.2
Ø1.2
最小測量值
0.02
0.01
0.04
0.01
工作距離
28
28
52
28
系統升降范圍
40
40
40
40